T_Trace SWIR : Spectromètre de process multicanal 900–1700 nm
⏳ Disponibilité annoncée : Courant 2027
Le T_Trace SWIR est actuellement en phase de qualification avancée. Prenez contact avec notre bureau d’études dès aujourd’hui pour planifier vos évaluations ou réserver vos créneaux de tests applicatifs.
Le T_Trace SWIR est un spectromètre industriel fibré haute performance dédié à l’analyse spectroscopique en infrarouge ondes courtes (Short-Wave Infrared, 900 – 1700 nm) pour le contrôle continu en ligne (in-line et on-line). Conçu autour d’une architecture optique en transmission à grisme et du capteur InGaAs révolutionnaire Sony SenSWIR IMX993, il permet d’exploiter de 1 à 8 voies optiques simultanées sur une fente de 3 mm sans aucun multiplexage mécanique.
Proposé en connectivité USB-3 High-Speed ou GigE (PoE), le T_Trace SWIR délivre en continu des spectres bruts haute vitesse pour alimenter vos automates d’usine et vos algorithmes chimiométriques les plus exigeants.
Points forts de l’architecture optique & industrielle
- Capteur InGaAs de pointe Sony SenSWIR (IMX993) : technologie InGaAs à pas réduit (pixels de 5 µm, résolution 640 × 512), offrant un rendement quantique très élevé, une linéarité exemplaire et un obturateur global (Global Shutter).
- Multicanal parallèle synchrone (1 à 8 canaux) : la hauteur de fente de 3 mm projette simultanément jusqu’à 8 faisceaux fibrés distincts sur la matrice InGaAs, garantissant une synchronisation temporelle parfaite sans pièce mobile.
- Cadences d’acquisition élevées : grâce à la dimension adaptée de la matrice (512 lignes au total), le fenêtrage vertical permet d’atteindre plus de 220 acquisitions complètes par seconde sur 8 voies simultanées et jusqu’à 1 800 spectres/s en mono-voie.
- Fentes interchangeables modulables : fente standard de 25 µm pour une résolution spectrale de 5 nm FWHM, disponible également sur demande en 70 µm, 100 µm, 150 µm ou 200 µm pour capturer un maximum de photons sur des échantillons fortement absorbants.
- Connectiques optiques standardisées :
- Entrée spectromètre : port SMA (1 voie) ou férule industrielle haute précision FC/APC (configurations multivoies 2 à 8 canaux alignées en usine).
- Côté mesure : embouts SMA ou FC/PC montés sur collimateurs de réflexion sans contact ou sondes à immersion adaptées au SWIR.
- Conception durcie IP54 : boîtier compact en aluminium anodisé, dissipant intégralement ses calories thermiques par conduction mécanique (semelle sur plaque de dissipation conductrice).
Applications industrielles cibles (SWIR 900 – 1700 nm)
La bande SWIR 900 – 1700 nm contient les signatures vibrationnelles les plus intenses des liaisons C-H, O-H et N-H (premières harmoniques et bandes de combinaison), permettant de traverser les emballages translucides et de discriminer des matrices complexes :
- Tri sélectif et recyclage haute cadence des polymères :
- Discrimination précise des résines : séparation non ambiguë des plastiques d’ingénierie (PET, PEHD, PELD, PP, PVC, PS, ABS, polyamides) sur convoyeurs industriels.
- Caractérisation des plastiques noirs : contrairement aux capteurs silicium classiques, la sensibilité SWIR permet d’identifier les polymères chargés en noir de carbone.
- Industrie pharmaceutique et chimie fine (PAT – In-Line) :
- Titrage de principes actifs (API) : dosage quantitatif direct au cœur de mélangeurs rotatifs, de cuves de synthèse ou de presses à comprimer.
- Analyse à travers emballage : contrôle d’identité et de pureté non destructif à travers des flacons en verre ou des blisters polymères.
- Teneurs en eau critiques : détection d’humidité à très faibles niveaux grâce à la très forte bande d’absorption de l’eau centrée à 1450 nm.
- Pétrochimie, carburants et lubrifiants :
- Mesure directe d’indice d’octane/cétane et d’aromatiques dans les coupes de distillation en continu.
- Suivi de dégradation, d’acidité (TAN) et de contamination en eau dans les huiles hydrauliques et lubrifiants de turbines.
- Agro-industrie et produits céréaliers :
- Dosage simultané protéines, lipides, glucides et humidité sur flux massiques de grains entiers, graines oléagineuses et tourteaux.
Caractéristiques Optiques & Électroniques
| Paramètre | Spécification |
|---|---|
| Plage spectrale | 900 – 1700 nm (SWIR) |
| Capteur optique | InGaAs Sony SenSWIR 2D (IMX993, 640 × 512) |
| Largeur de fente (sur demande) | 25 µm (standard), 70 µm, 100 µm, 150 µm ou 200 µm |
| Hauteur de fente | 3 mm (dédiée multicanal 1 à 8 voies) |
| Résolution optique (FWHM) | 5 nm (avec fente standard 25 µm) |
| Nombre de canaux optiques | 1 à 8 voies simultanées (sans multiplexage optomécanique) |
| Connectique optique entrée spectro | SMA (mono-voie) / FC/APC (2 à 8 voies) |
| Connectique optique côté mesure | SMA ou FC/PC au choix (compatible collimateurs & sondes) |
| Interfaces de communication | USB 3.0 High-Speed ou GigE (connecteur industriel) |
| Alimentation | Auto-alimenté via USB-3 ou PoE (Power over Ethernet via GigE) |
| Déclenchement externe | Entrée Hardware trigger (synchronisation simultanée des voies) |
| Pilotage d’éclairage externe | Contrôle de 1 à 4 sources T_Light via boîtier externe T_link |
| Indice de protection | IP54 (boîtier aluminium anodisé) |
| Montage & Thermique | Dissipation par la semelle (support conducteur acier/alu requis) |
Cadences d’Acquisition (Fréquences de Mesure)
La matrice InGaAs 2D permet des cadences exceptionnelles grâce à son architecture à 512 lignes lues et au sous-fenêtrage vertical (ROI) :
| Configuration | Mode de lecture capteur | Cadence maximale théorique* | Cadence cumulée |
|---|---|---|---|
| Mono-canal (1 voie) | 50 lignes utiles | jusqu’à 1 800 spectres/s | 1 800 spectres/s |
| Multicanal (8 voies) | Fente complète (~400 à 450 lignes) | jusqu’à 220 acquisitions/s | 1 760 spectres/s |
* Cadence maximale mesurée pour un temps d’intégration Tint ≤ 0,5 ms. En condition réelle de process, la fréquence de mesure dépend du flux photonique disponible et obéit à la relation F = 1 / max(Tint, Treadout).
Intégration Ligne & Accessoires de Mesure
GoyaLab propose une panoplie complète d’accessoires optimisés pour la transmission du signal en bande SWIR :
- Fibres optiques à bas OH (Low-OH) : câblages fibrés spécifiques éliminant les pertes de transmission au voisinage de 1400 nm.
- Collimateurs optiques & têtes de réflexion diffuse : mesures sans contact à distance focale calibrée sur convoyeur de matières solides ou broyats de plastiques.
- Sondes d’immersion SWIR : trajets optiques adaptés (1 à 5 mm) pour l’analyse en cuves de formulation et réacteurs chimiques sous atmosphère contrôlée.
- Éclairage SWIR T_Light & Boîtier d’Extension T_link :
- Sources lumineuses halogènes à quartz stabilisées en tension ou modules LED SWIR à longue durée de vie.
- Pilotage synchronisé via le boîtier externe T_link avec relais d’alimentation 24 V.
Écosystème Logiciel & Chimiométrie Industrielle
- SpectroLab (Inclus, gratuit et sans limite de licence) : paramétrage du capteur SenSWIR, gestion du noir/blanc, détection de saturation et exports ouverts (.xlsx, .txt, .spc).
- API Python Complète : intégration directe dans vos scripts d’acquisition, automates programmables et bancs d’essais.
- Suite Chimiométrique Expert / Capture :
- Développement de calibrations multidimensionnelles PLS (titrage quantitatif) et modèles de classification PCA (tri de matières).
- Disponible en mode Cloud SaaS ou installé sur serveur local dédié (On-Premise) pour une sécurité totale des données de production.
- Inférence immédiate sur ligne via Capture pour restitution des résultats opérateurs.
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Champs d'application
Les champs d'application sont infinis. Aujourd'hui notre expertise se porte en particulier sur les domaines suivants
Colorimétrie des liquides translucides : Mesure en transmission & Échelles métiers
Analyse de liquides en Transmission : Absorbance, DO & Loi de Beer-Lamber
Caractérisation et qualification des sources LED : La métrologie spectrale à portée de main
Mesure du rayonnement Photosynthétique (PAR) en serre : Pilotez la lumière utile à vos cultures
Gemmologie avancée & Métrologie optique
Caractérisation de sources lumineuses
Mesure de transmission optique des polymères et des cristaux
Caractérisation de filtres optiques
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